Sección de Difracción de Rayos X en polvo. SCSIE

Difracción con Rayos X

Conocer la estructura cristalina de la materia

El Servicio Central de Apoyo a la Investigación Experimental (SCSIE)de la Universitat de València es un recurso singular que integra infraestructuras, laboratorios, equipamiento y personal altamente cualificado. Su principal objetivo es ofrecer soporte técnico y asesoramiento científico, así como apoyo docente a toda la comunidad universitaria, otros centros públicos de investigación (OPIs) y empresas privadas. Su misión es proporcionar apoyo a la investigación, a la transferencia de conocimientos y a la innovación en ámbitos tan diversos como: genómica, bioinformática, proteómica, RMN, microscopía, etc.

El Laboratorio de la Sección Difracción de Rayos X en polvo está dirigido a la realización de análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos en su gran mayoría de naturaleza sólida y de origen diverso.

Servicios

El equipamiento de que dispone la sección permite la aplicación de diferentes técnicas de análisis por difracción de rayos x ofreciendo  una amplia oferta de servicios en la realización de análisis:

  • Análisis de materiales: polvos obtenidos por síntesis, materiales minerales, materiales con origen en  yacimientos arqueológicos u obras de arte, sustratos con crecimiento cristalino, plásticos, films, sedimentos de aguas, depósitos en filtros y muestras orgánicas en polvo.
  • Preparación y adecuación de muestras para análisis por difracción de rayos X.
  • Análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
  • Optimización de resultados mediante difracción de rayos X.
  • Análisis por difracción de rayos X de muestras a bajo ángulo.
  • Análisis por difracción de rayos mediante incidencia rasante.
  • Análisis por difracción de rayos X con temperatura variable hasta 1200ºC.
  • Análisis termodiferencial y termogravimétrico de muestras sólidas.
  • Software DIFFRACT SUITE, TOPAS y PDF (ICCD 2010).

Sectores

  • Aplicaciones generales, líneas y proyectos de investigación.
  • Química inorgánica y ciencia de materiales. Análisis estructural y microestructural de materiales con propiedades ópticas y térmicas. Análisis de pigmentos y pastas cerámicas.
  • Física aplicada. Crecimiento cristalino ya caracterización de óxidos semiconductores II-IV para la Optoelectrónica y Espintrónica.
  • Química analítica. Análisis instrumental aplicado a muestras de interés medioambiental, geológico, industrial, artístico y arqueológico.
  • Geología. Análisis cualitativo y cuantitativo  de fases cristalinas en rocas, minerales y productos industriales. Análisis de perfil de picos de difracción en fases cristalinas de productos naturales y sintéticos.

Aplicaciones

  • Identificación de las distintas fases cristalinas presentes en las muestras de forma cualitativa y cuantitativa, así como la realización de estudios estructurales.
  • Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
  • Determinación de datos térmicos, calor específico, conductividad térmica, calor de fusión, puntos de fusión y ebullición, etc.
  • Determinación de cambios estructurales, que tienen lugar en las transiciones sólido-sólido, y que pueden ser endotérmicos o exotérmicos.
  • Caracterización de materiales a través de la temperatura de transición vítrea.
  • Control de calidad, o ensayos de pureza.
  • El estudio de orientaciones preferentes y análisis de textura.
  • Caracterización de capas epitaxiales.

Instalaciones y Equipamiento

  • Difractómetro de polvo modelo D5005 (Bruker).
  • Difractómetro de polvo modelo D8 Avance A25 (Bruker).
  • Difractómetro configuración θ-2θ, tubo de rayos X  ánodo de Cu, monocromador de haz difractado, detector de centelleo, rendijas automáticas y porta-muestras giratorio (15 - 120 rpm) con cargador  automático de 40 portamuestras.
  • Difractómetro de polvo configuración θ:θ,tubo de rayos X  radiación Cu .Permite realizar medidas con haz divergente y haz paralelo dispone de portamuestras automático de hasta 45 muestras. El detector LYNXEYE permite trabajar tanto en  modo lineal (3º θ) como  modo puntual.
  • Cámara de temperatura (Anton Paar) accesoria intervalo de tpta. hasta 1200ºC.
  • Difractómetro de alta resolución XPERT Pro (Panalytical).
  • Goniómetro de alta resolución en configuración horizontal, tubo de rayos X de Cu y una cuna euleriana como plataforma portamuestras que permite realizar movimientos programables de Phi, Psi, X, Y, Z.
  • Analizador termogravimétrico y termodiferencial (TG-DTA) (Pyris Diamond): realiza medidas termogravimétricas y análisis térmico diferencial simultáneamente de metales, materiales  cerámicos y materiales poliméricos. Temperatura de medida desde Tª ambiente hasta 1250ºC con atmósfera controlada Aire o Nitrógeno.

Otra información de interés

La sección dispone de software con licencia en red para la interpretación de resultados y base de datos actualizada (Software DIFFRACT SUITE, TOPAS y PDF (ICCD 2010).

Todos los laboratorios del SCSIE disponen de la Certificación ISO 9001:2008 (Número de certificado ES054238-1), que reconoce que “las actividades de apoyo a la investigación pública y privada, prestación de servicios analíticos, científicos, técnicos y otros, desarrollados por el SCSIE” se realizan de acuerdo al Sistema de Gestión de la Calidad que el SCSIE ha implantado eficazmente y que cumple con los requisitos de dicha Norma.

Ámbito temático

  • Técnicas instrumentales
  • Ciencia de Materiales
  • Geología, Química, Física
 

Contacto

Sección de Difracción de Rayos X en polvo. Servicio Central de Soporte a la Investigación Experimental (SCSIE)

Alicia Mestre
Tel: +34 96 354 33 03
E-mail: alicia.mestre@uv.es
Homepage: http://scsie.uv.es