Difracción con Rayos X
Conocer la estructura cristalina de la materia
El Servicio Central de Apoyo a la Investigación Experimental (SCSIE)de la Universitat de València es un recurso singular que integra infraestructuras, laboratorios, equipamiento y personal altamente cualificado. Su principal objetivo es ofrecer soporte técnico y asesoramiento científico, así como apoyo docente a toda la comunidad universitaria, otros centros públicos de investigación (OPIs) y empresas privadas. Su misión es proporcionar apoyo a la investigación, a la transferencia de conocimientos y a la innovación en ámbitos tan diversos como: genómica, bioinformática, proteómica, RMN, microscopía, etc.
El Laboratorio de la Sección Difracción de Rayos X en polvo está dirigido a la realización de análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos en su gran mayoría de naturaleza sólida y de origen diverso.
Servicios
El equipamiento de que dispone la sección permite la aplicación de diferentes técnicas de análisis por difracción de rayos x ofreciendo una amplia oferta de servicios en la realización de análisis:
- Análisis de materiales: polvos obtenidos por síntesis, materiales minerales, materiales con origen en yacimientos arqueológicos u obras de arte, sustratos con crecimiento cristalino, plásticos, films, sedimentos de aguas, depósitos en filtros y muestras orgánicas en polvo.
- Preparación y adecuación de muestras para análisis por difracción de rayos X.
- Análisis por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
- Optimización de resultados mediante difracción de rayos X.
- Análisis por difracción de rayos X de muestras a bajo ángulo.
- Análisis por difracción de rayos mediante incidencia rasante.
- Análisis por difracción de rayos X con temperatura variable hasta 1200ºC.
- Análisis termodiferencial y termogravimétrico de muestras sólidas.
- Software DIFFRACT SUITE, TOPAS y PDF (ICCD 2010).
Sectores
- Aplicaciones generales, líneas y proyectos de investigación.
- Química inorgánica y ciencia de materiales. Análisis estructural y microestructural de materiales con propiedades ópticas y térmicas. Análisis de pigmentos y pastas cerámicas.
- Física aplicada. Crecimiento cristalino ya caracterización de óxidos semiconductores II-IV para la Optoelectrónica y Espintrónica.
- Química analítica. Análisis instrumental aplicado a muestras de interés medioambiental, geológico, industrial, artístico y arqueológico.
- Geología. Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas en rocas, minerales y productos industriales. Análisis de perfil de picos de difracción en fases cristalinas de productos naturales y sintéticos.
Aplicaciones
- Identificación de las distintas fases cristalinas presentes en las muestras de forma cualitativa y cuantitativa, así como la realización de estudios estructurales.
- Análisis cualitativo y cuantitativo de fases cristalinas por difracción de rayos X de materiales policristalinos.
- Determinación de datos térmicos, calor específico, conductividad térmica, calor de fusión, puntos de fusión y ebullición, etc.
- Determinación de cambios estructurales, que tienen lugar en las transiciones sólido-sólido, y que pueden ser endotérmicos o exotérmicos.
- Caracterización de materiales a través de la temperatura de transición vítrea.
- Control de calidad, o ensayos de pureza.
- El estudio de orientaciones preferentes y análisis de textura.
- Caracterización de capas epitaxiales.
Instalaciones y Equipamiento
- Difractómetro de polvo modelo D5005 (Bruker).
- Difractómetro de polvo modelo D8 Avance A25 (Bruker).
- Difractómetro configuración θ-2θ, tubo de rayos X ánodo de Cu, monocromador de haz difractado, detector de centelleo, rendijas automáticas y porta-muestras giratorio (15 - 120 rpm) con cargador automático de 40 portamuestras.
- Difractómetro de polvo configuración θ:θ,tubo de rayos X radiación Cu .Permite realizar medidas con haz divergente y haz paralelo dispone de portamuestras automático de hasta 45 muestras. El detector LYNXEYE permite trabajar tanto en modo lineal (3º θ) como modo puntual.
- Cámara de temperatura (Anton Paar) accesoria intervalo de tpta. hasta 1200ºC.
- Difractómetro de alta resolución XPERT Pro (Panalytical).
- Goniómetro de alta resolución en configuración horizontal, tubo de rayos X de Cu y una cuna euleriana como plataforma portamuestras que permite realizar movimientos programables de Phi, Psi, X, Y, Z.
- Analizador termogravimétrico y termodiferencial (TG-DTA) (Pyris Diamond): realiza medidas termogravimétricas y análisis térmico diferencial simultáneamente de metales, materiales cerámicos y materiales poliméricos. Temperatura de medida desde Tª ambiente hasta 1250ºC con atmósfera controlada Aire o Nitrógeno.
Otra información de interés
La sección dispone de software con licencia en red para la interpretación de resultados y base de datos actualizada (Software DIFFRACT SUITE, TOPAS y PDF (ICCD 2010).
Todos los laboratorios del SCSIE disponen de la Certificación ISO 9001:2008 (Número de certificado ES054238-1), que reconoce que “las actividades de apoyo a la investigación pública y privada, prestación de servicios analíticos, científicos, técnicos y otros, desarrollados por el SCSIE” se realizan de acuerdo al Sistema de Gestión de la Calidad que el SCSIE ha implantado eficazmente y que cumple con los requisitos de dicha Norma.
Ámbito temático
- Técnicas instrumentales
- Ciencia de Materiales
- Geología, Química, Física
